《現(xiàn)行
光學元件檢測與國際
標準》徐德衍 王青等編著，
科學出版社2009版，共14個壓縮
文件。
Sav`%0q?7a k4KHS< n0 該書重點介紹了
光學元件檢測領(lǐng)域的近期進展、方法、技術(shù)和需求。全書共10章，主要論述了現(xiàn)代光學的發(fā)展對光學元件檢測的需求；計量概念與誤差及
精度的必要知識；光學元件檢測基礎(chǔ)；光學元件的
參數(shù)檢測和性能檢測的現(xiàn)行技術(shù)，側(cè)重對特殊元件、光學表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述；介紹了光學元件技術(shù)要求和檢測要求的國際標準（ISO10110）的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助
資料�！冬F(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》附錄匯總了光學檢測中4個常用的資料及相關(guān)的參考書籍。
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