大家好，今天第一次用7.0版本的tracepro 做光學(xué)系統(tǒng)PST分析，給光學(xué)系統(tǒng)設(shè)定自動重點采樣后，在進(jìn)行軸外雜散光追跡時，出現(xiàn)了一個 (]2H7X:b  
warning，具體內(nèi)容如下： YPDf Y<?v  
importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, +~zXDBS9  
suppressing ray,use segments on importent sampling target。 =3xE:  
mB'3N;~  
不知道什么原因，還望大俠們解釋一下，非常感謝，有空到西安，我請你們吃飯，謝謝   13379278577

路過，學(xué)習(xí)下

從提示來看，可能是自動重點取樣設(shè)定的有問題。

如果真是，記得請我吃飯

你是西安哪的

西安人還挺多啊，

我是西光所得，以前用 的5.0版本從來沒有出現(xiàn)過這個問題，我自己感覺可能是重點采 c>bq%}  
樣有點重復(fù)了，沒辦法，只能把所有的重點采樣面給取消了。這樣就沒有出問題了。

op-city:從提示來看，可能是自動重點取樣設(shè)定的有問題。 (2014-02-19 16:20)  dB
CbL.!  

@# P0M--X  
我是西光所得，以前用 的5.0版本從來沒有出現(xiàn)過這個問題，我自己感覺可能是重點采 6x{<e4<n  
樣有點重復(fù)了，沒辦法，只能把所有的重點采樣面給取消了。這樣就沒有出問題了。

wfn129:你是西安哪的 (2014-02-19 18:35)  .ujT!{>v/  

X#a`K]!B  
我是西光所的，以前用 的5.0版本從來沒有出現(xiàn)過這個問題，我自己感覺可能是重點采 :yT-9Ze%q  
樣有點重復(fù)了，沒辦法，只能把所有的重點采樣面給取消了。這樣就沒有出問題了。

西安光機(jī)所的嗎