帖子
勛章
關(guān)注
任務(wù)
光學(xué)表面瑕疵（光潔度）檢驗權(quán)威  SIF.rar (360 K) 下载次数:20  大家好，今天向大家推薦一款光學(xué)表面瑕疵的權(quán)威檢測設(shè)備。 SavvyInspectorTM SIF-4 是美國savvy 光學(xué)公司針對工廠車間開發(fā)的一款光學(xué)表面劃痕/麻點檢驗系統(tǒng)。結(jié)合專門的分析軟件及照明裝置來對平面光學(xué)表面的劃痕/麻點情況進行客觀檢測，打破了長久以來靠人眼觀察光學(xué)表面瑕疵的傳統(tǒng)，消除了人為判斷的主觀性。使得該系統(tǒng)在劃痕/麻點檢驗過程中，具有客觀、重復(fù)性高、數(shù)據(jù)可記錄等優(yōu)點。 產(chǎn)品應(yīng)用： 光學(xué)表面瑕疵（劃痕/麻點）檢測 產(chǎn)品特點 l 支持美國軍標(biāo)MIL-PRF-13830B、 MIL-C-675C、美國國家標(biāo)準ANSI/OEOSCOP1.002:2009Visibility Method。 2 樣品要求：鍍膜或非鍍膜元件，平面或大曲率凹面。 3 檢測報告值：劃痕數(shù)-10,20,40,60,80麻點值-從5到70，同時還可測量劃痕長度。 4 在檢測區(qū)域內(nèi)，軟件自動讀取數(shù)據(jù)，判斷劃痕/麻點情況。 產(chǎn)品優(yōu)勢 l 可客觀、高重復(fù)評估光學(xué)表面瑕疵，消除人為檢測的主觀性。 2 針對工廠車間設(shè)計，樣品易放，實時檢測 3.數(shù)據(jù)可記錄為文件和圖像 SavvyInspectorTM檢測的基本原理 采用環(huán)形光源照明被測件（不用旋轉(zhuǎn)樣品），光束經(jīng)過被測件反射之后，回到相機中成像。 產(chǎn)品參數(shù)
[ 此帖被janeoptic在2014-04-29 10:43重新編輯 ]
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||
