Intelliwave,是一種功能強(qiáng)大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件,通常用于量測(cè)許多表面(材料)的外形。
)s~szmJoVD r1A<XP|1?I Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟件
a`*Dq"9pV >3qfo2K0 Intelliwave是一種功能強(qiáng)大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件,通常用于量測(cè)許多表面(材料)的外形(或是其他特性),包括鏡子、透鏡、半導(dǎo)體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形,Intelliwave需要制造一個(gè)光學(xué)相位差來獲得干涉圖形,因?yàn)楦缮鏃l紋圖是干涉儀中的測(cè)試光及參考光的光程差而形成,藉著干涉圖形的處理,主要在于鑒定待測(cè)光學(xué)儀器的表面外型。Intelliwave 結(jié)合了攫取、輸入、分析、以及許多實(shí)際干涉圖形文檔等等特性,更提供了強(qiáng)大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點(diǎn)。
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=MP1q[ Zn{Y+ce7d Intelliwave 應(yīng)用的領(lǐng)域:
.ED8b5t| _wp_y-" 高功率激光的外型和反射特性的量測(cè)
B4MrrW4= +}eH, 極溫度( Extreme Temperature)的應(yīng)用
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`?_ "2=v:\~= 天文上的應(yīng)用 : 天文鏡片、天文望遠(yuǎn)鏡
r^v1_u,1I r?$V;Z 光學(xué)量測(cè)
*mjPNp'3{m q\n,/#'i~ 對(duì)于非球狀光學(xué)結(jié)構(gòu)有高分辨率
RA$%3L[A! 8n"L4jb(: 在半導(dǎo)體上的應(yīng)用
U0ZPY )7k L&,&SDr 全像攝影
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