《精密光學(xué)元件先進(jìn)測量與評價》結(jié)合光學(xué)測量技術(shù)的最新發(fā)展，針對目前光學(xué)領(lǐng)域中先進(jìn)光學(xué)測量技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的探討，主要涉及技術(shù)起源與發(fā)展、原理、優(yōu)缺點(diǎn)、具體的測量設(shè)備，以及相關(guān)的測量方法和精度。 ^#Ruw?D  
《精密光學(xué)元件先進(jìn)測量與評價》分為6 章，第1 章歸納了光學(xué)元件質(zhì)量表述和評價方式，闡述了光學(xué)干涉測量技術(shù)的基本知識與原理；第2～5 章分別介紹了子孔徑拼接輪廓測量、接觸式輪廓測量、結(jié)構(gòu)光輪廓測量和亞表面損傷檢測；第6 章介紹了其他相關(guān)的光學(xué)測量方法。 /@!%/Kl  
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圖片:搜狗截圖_2014-11-27_17-46-53.jpg

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目錄 Tw{}Ht_Qq  
前言 X,Q'Xe/  
第1章緒論 >&mNC\PA  
1.1概述 2A5R3x=\  
1.2光學(xué)元件質(zhì)量評價 YaWZOuxm  
1.2.1表面質(zhì)量評價 42{\u