X射線與極紫外XUV光譜儀 LO M-i>  
像差校正平場入射X射線光譜儀，光譜范圍可涵蓋1-80nm.模塊化設(shè)計(jì)，可以滿足不同的實(shí)驗(yàn)條件和環(huán)境。 $#
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[cf!%3>53  
技術(shù)參數(shù) .uu[MzMIu  

波長范圍 <Yy|.=6 D

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10-60