紫外可見近紅外分光光度計 E}9ldM=]s  
新一代設(shè)計的 PHOTON RT 是專業(yè)測量光學(xué)部件鍍膜特性的萬能型分光光度計，根據(jù)光譜范圍可以選擇六種配置（190-1700nm, 190-2700nm, 190-4900nm, 380-1700nm, 380-2700nm與380-4900nm)。最寬光譜范圍可從190nm-4900nm。該儀器的設(shè)計改變了行業(yè)的測量觀念，致力于提供最簡潔、最靈活與速度最快的操作。無需任何額外附件與成本，可以實現(xiàn)寬角度的的絕對反射率與絕對透射率測量，以及實現(xiàn)偏振模式測量，獨創(chuàng)設(shè)計的分光光度計包含參考通道，能對直徑范圍從10mm到120mm的光學(xué)部件進(jìn)行測量研究。 :&)/vq  
基于光譜光度逆向工程可以測量紫外可見近紅外全光譜范圍內(nèi)薄膜材料的折射率n、吸收系數(shù)k與薄膜厚度d, 確保了強大的QA/QC分析與研究開發(fā)。 >1G*ya)  
Photon RT分光光度計確保高精度高重復(fù)性測量，裝置結(jié)實緊湊，可保證每天的頻繁使用。主機有一個大的蓋子，為測量艙提供一個簡單和方便的通道，光學(xué)部件可快速安全放置。 mS}x2&  
測量能力: 8I0Tu  
透射率T, Ts, Tp ( 0-75°角度范圍) ~!9Px j*  
反射率 R, Rs, Rp (8–75°角度范圍) !gfhEzY  
根據(jù)給定入射角計算T(s+p)/2和R(s+p)/2 ~C7<a48x  
樣品的光學(xué)密度, 0 – 4 (D) 1DtMY|wP  
紫外可見近紅外全光譜范圍內(nèi)逆向工程的無衰減（自動）nkd測定 :yjK*"T|OD  
偏振分束片的測量 ?lN8~Ze  
特定光譜范圍內(nèi)R和T的積分值 5qkuKF  
透射和反射的光散射特征線 _I-VWDCk  
顏色坐標(biāo) jZT :-w  
動態(tài)測量 X/K)kIi  
PFy;qk  
參數(shù) S5u#g`I]  
描述                           光學(xué)配置 {V%O4/  
單色儀設(shè)計                     Cherny-Turner )z235}P  
光學(xué)元件                       Mirror, Al + SiO2, Al+MgF2 ,]_(-tyN|  
參考通道                       有 6*aa[,>  
波長取樣間距， nm              0,5 to 100 g)?g7{&?>?  
波長掃描速度，nm / min         3 000 (at 5 nm wavelength sampling pitch) aC~n:0v  
到樣品光斑尺寸，mm             6 х 2 k