對于空間碎片觀測相機(jī)、超高精度星敏感器等探測暗弱點(diǎn)狀目標(biāo)的設(shè)備而言，大口徑緊湊型高像質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)設(shè)備亞角秒級探測精度關(guān)鍵影響因素。對星敏感器等姿態(tài)測量精度影響較大的是溫度變化引起透鏡組光學(xué)性能變化的視軸漂移誤差、光學(xué)系統(tǒng)焦距誤差、光軸偏離誤差和焦平面傾斜誤差以及光學(xué)畸變校正殘留誤差引起的偏置誤差等低頻誤差。 0R{R=r]  
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　　由中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所空間室王虎、劉杰、薛要克等人的發(fā)明專利“暗弱點(diǎn)狀目標(biāo)探測用亞角秒級大口徑緊湊型光學(xué)結(jié)構(gòu)”（發(fā)明專利號：ZL201510058431.8）很好地解決了上述問題，使得光學(xué)系統(tǒng)的熱穩(wěn)定性及高像質(zhì)有效減小了低頻誤差，近日已獲發(fā)明授權(quán)。  _34YH