合肥工業(yè)大學(xué)科研人員在光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域首次提出的一種分析方法，通過對(duì)高階標(biāo)定模型中各組成項(xiàng)對(duì)重構(gòu)結(jié)果重要性分析，在保證精度的前提下，實(shí)現(xiàn)了高階標(biāo)定模型的計(jì)算效率和穩(wěn)定性的大幅提升。日前，成果被國際著名期刊《測(cè)量科學(xué)與技術(shù)》評(píng)選為年度亮點(diǎn)文章。 8VR! Y0`e  
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高精度光學(xué)三維掃描是目前光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)之一。其中，條紋投影掃描測(cè)量技術(shù)憑借非接觸式測(cè)量、測(cè)量速度快以及測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于逆向工程、文物保護(hù)等復(fù)雜曲面幾何參數(shù)的精密測(cè)量領(lǐng)域。然而，由于條紋投影掃描測(cè)量技術(shù)需要通過高階模型進(jìn)行標(biāo)定，在測(cè)量中獲取的各項(xiàng)數(shù)據(jù)在高階模型中標(biāo)定較為困難，從而影響了其測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定性。 &(,-:"{pNR  
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針對(duì)這一問題，該校儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院于連棟教授科研團(tuán)隊(duì)，在標(biāo)定模型優(yōu)化、自適應(yīng)有效點(diǎn)云識(shí)別以及相位誤差精確補(bǔ)償?shù)汝P(guān)鍵問題提出了創(chuàng)新性的解決辦法，從而獲取高精度的三維輪廓點(diǎn)云。同時(shí)，該團(tuán)隊(duì)首次提出一種確定高階標(biāo)定模型中各組成項(xiàng)對(duì)重構(gòu)結(jié)果重要性的分析方法，可在測(cè)量過程中識(shí)別并剔除對(duì)重構(gòu)結(jié)果影響微小的組成項(xiàng)，通過優(yōu)化高階標(biāo)定模型，在保證精度的前提下，提升了高階標(biāo)定模型的計(jì)算效率和穩(wěn)定性。 `ls^fnJTpf  
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“傳統(tǒng)激光掃描等方法，常用于靜態(tài)物體測(cè)量，而條紋投影測(cè)量技術(shù)則可對(duì)動(dòng)態(tài)物體進(jìn)行測(cè)量。”于連棟教授介紹說，“比如在測(cè)量瞬間彈出的安全氣囊的變化過程時(shí)，由于被測(cè)量物快速變化，其高階模型的標(biāo)定更為困難。而這一成果可顯著提升測(cè)量結(jié)果的精度、效率和穩(wěn)定性�！睋�(jù)介紹，這一成果可廣泛應(yīng)用于高精度光學(xué)三維掃描領(lǐng)域，該團(tuán)隊(duì)目前已在條紋投影測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域申請(qǐng)4項(xiàng)國家發(fā)明專利。