LED效率下降的微觀根源
自從20世紀(jì)60年代被發(fā)明以來(lái),發(fā)光二極管(或稱LED)已經(jīng)慢慢取代了白熾燈泡,從汽車尾燈到電子指示器等應(yīng)用領(lǐng)域。 避開(kāi)白熾燈泡的燈絲和熒光燈泡的汞蒸汽,LED反而通過(guò)在半導(dǎo)體上施加電壓來(lái)產(chǎn)生光。電子與空穴(空穴位于本應(yīng)存在電子的晶體結(jié)構(gòu)中的位置,使它們帶正電荷)結(jié)合,導(dǎo)致發(fā)射光子 – 組成光的粒子。 大多數(shù)LED采用由氮化鎵(GaN)材料制成的半導(dǎo)體。這些氮化鎵發(fā)光二極管是可靠和安全的,但有一個(gè)缺點(diǎn),即隨著電壓的升高而迅速變得效率低,這種現(xiàn)象稱為“效率下降”。 “在美國(guó),超過(guò)10%的電力用于商業(yè)和住宅領(lǐng)域的照明,轉(zhuǎn)向廣泛使用LED照明將導(dǎo)致巨大的能源節(jié)約,但效率下降是一個(gè)主要障礙,”Marco Bernardi說(shuō)到。他是加州理工學(xué)院工程與應(yīng)用科學(xué)系應(yīng)用物理與材料科學(xué)助理教授,也是最近在Nano Letters雜志上的一篇關(guān)于效率下降的起因的通訊作者(“Ultrafast Hot Carrier Dynamics in GaN and its Impact on the Efficiency Droop”)。 當(dāng)受激電子超過(guò)GaN中的納米深度量子阱時(shí),發(fā)生效率下降。這些阱被設(shè)計(jì)成將電子捕獲并與空穴結(jié)合。當(dāng)電子能量太高而不能被阱捕獲時(shí),它們從LED器件泄漏而不發(fā)射任何光。 Bernardi說(shuō)到:“有人提出了幾種模型來(lái)解釋這種電子泄漏,但他們往往用直覺(jué)來(lái)證明實(shí)驗(yàn)證據(jù)合理的,他們往往把重點(diǎn)放在了定性分析上! 利用加州理工學(xué)院的團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)的新計(jì)算方法,該由Bernardi領(lǐng)導(dǎo)的團(tuán)隊(duì)在原子水平以及晶格振動(dòng)層面上研究了GaN如何影響材料中的電子,晶格振動(dòng)是固體中原子熱運(yùn)動(dòng)的背景“嗡嗡聲”。據(jù)了解,這種嗡嗡聲從電子和空穴中消耗能量。然而,Bernardi發(fā)現(xiàn)空穴中嗡嗡聲消耗能量的發(fā)生比電子的速度要快-這種失配使得電子能夠超出量子阱,逃離GaN而沒(méi)有與空穴結(jié)合并發(fā)光。 Bernardi說(shuō)到:“我們的工作首次表明,電子與晶格振動(dòng)之間始終存在的相互作用本身就能解釋為什么受激的電子會(huì)從活性層泄漏出去,造成GaN LED效率低下。 Bernardi和他的同事們還沒(méi)有完成對(duì)GaN效率下降的研究。接下來(lái),他們計(jì)劃研究該下降如何依賴于溫度和其他材料屬性。 |