X射線(X-ray)檢測
X射線(X-ray)檢測是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X 光,快速檢測出被檢物。
利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透來檢測電子元器件、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì)、以及SMT各類型焊點焊接質(zhì)量等[1] 。 型號:XD7500NT 參考標(biāo)準(zhǔn):《IPC-A-610E電子組裝件的驗收標(biāo)準(zhǔn)》、《GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則》 測試項目: 1、集成電路的封裝工藝檢測:層剝離、開裂、空洞和打線工藝; 2、印刷電路板制造工藝檢測:焊線偏移,橋接,開路; 3、表面貼裝工藝焊接性檢測:焊點空洞的檢測和測量; 4、連接線路檢查:開路,短路,異;虿涣歼B接的缺陷; 5、錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗; 6、高密度的塑料材質(zhì)破裂或金屬材質(zhì)檢驗; 7、芯片尺寸量測,打線線弧量測,組件吃錫面積比例量測。 |