半導體失效分析失效分析定義:一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。我司已積累眾多經驗豐富,專業(yè)的智力資源,為廣大用護提供失效分析服務。 失效分析目的: (1) 明確潛在失效機理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節(jié),為改進產品設計,選材等提供依據(jù)。 (2) 通過失效機理分析還可以預測可靠性,起到技術反饋作用。 (3) 在提高產品質量,技術開發(fā)、產品改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。 |