中科院武漢物數(shù)所芯片原子磁強計研究取得進展
芯片化是原子磁強計設(shè)計的未來發(fā)展方向。近期,中國科學(xué)院武漢物理與數(shù)學(xué)研究所CPT頻標組科研人員提出一種基于單束多色多偏振光與原子作用的磁強計探頭設(shè)計方案,可利用芯片尺寸的微型化原子氣室獲取高靈敏度磁敏信號,為芯片級高精度原子磁強計設(shè)計提供了一種可行的方案。研究結(jié)果以快報形式發(fā)表在Physical Review Applied 上。
目前技術(shù)上較為成熟的芯片級原子磁強計采用雙共振方案,其磁場靈敏度不高,在10pT/Hz1/2量級。傳統(tǒng)的高精度原子磁強計采用法拉第旋光原理設(shè)計,由于需采用傳播方向相互垂直的雙束光與原子作用,因此難以芯片化。高級工程師張奕等采用單束多色多偏振光與原子作用,實現(xiàn)了與傳統(tǒng)法拉第旋光效應(yīng)原子磁強計方案相同的作用效果,實測得到的磁場靈敏度為20fT/1/2。由于該方案采用單束光替代雙束光與原子作用,故可大大減小探頭體積,易于實現(xiàn)芯片化。 圖:單束多色多偏振光法拉第旋光效應(yīng)原子磁強計方案原理 該項工作受到科技部重點研發(fā)計劃、自然科學(xué)基金青年基金資助。 論文鏈接:https://journals.aps.org/prapplied/abstract/10.1103/PhysRevApplied.12.011004 |