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高功耗對(duì)芯片可靠性的影響 高的工作溫度使各種輕微物理缺陷所造成的故障顯現(xiàn)出來(lái)，如橋接故障。 高的工作溫度使連線(xiàn)電阻變大，使線(xiàn)延時(shí)增加，時(shí)延故障變得嚴(yán)重起來(lái)。 同時(shí)溫度的提高，使漏電流增加，降低工作電壓，使門(mén)延時(shí)增加，同樣使時(shí)延故障變得嚴(yán)重起來(lái)。同時(shí)漏電流增加，還會(huì)導(dǎo)致P/G網(wǎng)的失效。 |
高功耗對(duì)芯片可靠性的影響高的工作溫度使各種輕微物理缺陷所造成的故障顯現(xiàn)出來(lái)，如橋接故障。 高的工作溫度使連線(xiàn)電阻變大，使線(xiàn)延時(shí)增加，時(shí)延故障變得嚴(yán)重起來(lái)。 同時(shí)溫度的提高，使漏電流增加，降低工作電壓，使門(mén)延時(shí)增加，同樣使時(shí)延故障變得嚴(yán)重起來(lái)。同時(shí)漏電流增加，還會(huì)導(dǎo)致P/G網(wǎng)的失效。 |
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