光學(xué)元件及鏡頭表面細節(jié)和MTF測試的完美測試儀器 S-H波前相差測試系統(tǒng)
干涉儀和MTF測試是傳統(tǒng)的透鏡或鏡頭的測試方法。干涉儀對得到表面的細節(jié)信息非常有用,但是相對較貴且不易應(yīng)用到生產(chǎn)線上。尤其,干涉儀不能對離軸光學(xué)測試,且只能工作在某一固定波長而無法對色差進行測試。MTF測試可以用于離軸測量,得到的測試信息主要是GO/NO GO信息,而且,由于采用了較多地移動部件進行掃描測試來尋找焦點,維護保養(yǎng)也是個問題。 理想的測試系統(tǒng)應(yīng)該是既可以得到干涉儀提供的詳細測試信息(澤尼克系數(shù)、點陣圖、點擴散函數(shù)、MTF),并且系統(tǒng)應(yīng)該堅固耐用(測試結(jié)果不受震動和氣流影響),又可以兼顧離軸和近軸測試,還可以靈活的進行配置以完成不同類型透鏡的測試任務(wù)。此外還可以對色差進行測試,;能夠適應(yīng)不同環(huán)境、不同光學(xué)元件的測試需求;沒有移動部件以適應(yīng)生產(chǎn)環(huán)境的測試需要;系統(tǒng)緊湊、測試速度快;可以用于在線調(diào)試優(yōu)化透鏡系統(tǒng)。SpotOptics 的波前測試系統(tǒng)就是這樣的一個系統(tǒng) 基于該原理的測試儀器的主要優(yōu)點是結(jié)構(gòu)緊湊、適應(yīng)性強 (受震動和氣流影響很小), 可以用于生產(chǎn)環(huán)境。還可以采用閉環(huán)控制進行測試分析用于復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的裝配、調(diào)校、優(yōu)化、對準(zhǔn)等。 在復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)中,定義和測量最佳焦點和光軸是非常困難的。只有在整個視場內(nèi)進行離軸測試才能確定可以得到最佳像質(zhì)的配置。例如,由于傾斜造成的彗差通過調(diào)整補償通常是可以接受的。但是這種方法對離軸的像面質(zhì)量卻沒有改善。 通過將測試得到的5個位置的標(biāo)準(zhǔn)澤尼克失常系數(shù)(3階彗差、球差、散光)與設(shè)計的理論值進行比較,計算得到與最佳焦面的散焦偏離量(um)。需要特別說明的是,我們的軟件是通過數(shù)學(xué)計算的方法得到散焦偏離量的,沒有任何物理掃描的過程,與MTF的測試方法完全不同。 通過進行全區(qū)域分析得到的反饋信息對分析加工和裝配過程中的問題是一個功能強大和必須的工具?梢怨(jié)省相當(dāng)?shù)臅r間和金錢。該系統(tǒng)可用于數(shù)碼相機的鏡頭、手機攝像頭鏡頭、遠心透鏡以及電視鏡頭測試,以及其它復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng),如HUD等。 光傲科技華南區(qū)銷售代表李建峰 Best regard Light All Co., Ltd. Room 12- F, 1st Building, No. 515, Yishan Road, Shanghai, P.R. China Tel:+86-21-51029613 64827985 Fax:+86-21-64827995 Mobile:13802252615 |